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850 次 TOF-SIMS在聚合物薄膜和涂層的光譜分析 2024-10-10
飛行時間二次離子質譜（ Time of FlightSecondary Ion Mass Spectrometry ，TOF-SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發(fā)生濺射產生二次粒子,
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691 次 二次離子質譜儀不同質量分析器的區(qū)別 2024-9-13
二次離子質譜法是一種高效的分析技術，利用化合物的離子化過程及其質量分析，以確定待測化合物的分子量、分子式和結構特征。質譜儀作為該方法的重要組成部分，通過將離子的質量進行有效分離，并
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948 次 TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀離子源的選擇 2024-8-29
TOF-SIMS（TimeofFlight Secondary Ion Mass Spectrometry）飛行時間二次離子質譜儀的基本組件包括一次離子束，和用于樣品深度剖析的離子束。主離子束被脈沖化以供飛行時間質譜儀進行分析使用。
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1010 次 使用TOF-SIMS進行材料研究 2024-8-13
靜態(tài)SIMS是一種非常靈敏的表面分析技術，能在只消耗樣品單層一小部分的情況下，獲得詳細的質譜圖。被分析的分子來自固體表面前幾層，這對于探討材料關鍵區(qū)域例如附著力或催化等性質至關重要。Ko
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1087 次 TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜的技術能力 2024-8-6
飛行時間二次離子質譜 （TOF-SIMS） 是一種表面分析技術，它將脈沖一次離子束聚焦到樣品表面，在濺射過程中產生二次離子。分析這些二次離子可提供有關樣品表面的分子、無機和元素種類的信息。例
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2420 次 一文讀懂飛行時間二次離子質譜技術（TOF-SIMS） 2024-8-1
什么是TOF SIMS? 它可以應用于哪些領域？能提供哪些信息？哪些樣品適用（哪些不適用）？在這一系列文章中，我們將解答所有這些問題，以及更多探討。飛行時間二次離子質譜法（ToF SIMS）是一種用
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