萬深新推出的SC-X0型面粉粉色麩星檢測儀或稱小麥粉加工精度測定儀、麩星儀專用于測定小麥粉的粉色、麩星面積占比、麩星密度、最大麩星面積、黑點面積占比、白度、加工精度等級等指標。
        其可全自動測定小麥粉的粉色（L、a、b表示）、麩星面積占比（試樣表面麩星面積與試樣表面積的比值%）、麩星密度（每cm2麩星個數）、最大麩星面積（mm2）、黑點面積占比（試樣表面黑點面積與試樣表面積的比值%）、白度（藍光白度）。可根據小麥粉加工精度標準樣品，全自動判定試樣的加工精度等級（特制一級、特制二級、標準粉、普通粉），完全符合國家標準《GB/T 27628-2011糧油檢驗 小麥粉粉色、麩星的測定》、《GB/T 5504-2011 糧油檢驗 小麥粉加工精度檢驗》要求。
        其最快30秒內可全自動檢測完畢。測量精度達到：粉色0.01，麩星含量0.01%，白度0.01；同一試樣兩次測定的重復精度達到：粉色△E≤0.2，麩星含量≤0.2%、白度≤0.3。可自動判斷篩網是否漏竄（最大單個麩星的尺寸與設定值比較）；其根據國家計量機構檢定的標準白板，自動校正儀器；可實時顯示檢測畫面和檢測結果，并將檢測結果和標記圖像保存在電腦上；還可根據時間、品名、檢驗人等，任意查詢數據及分析標記圖像，并生成Excel表。

        萬深檢測歷來聚焦用戶的各類痛點問題，以智能科技實力說話，在業界具有廣泛、良好的用戶口碑。 應用萬深系列儀器在國內外學術刊物上發表的中外高端學術論文已逾705篇：www.wseen.com/News.aspx?id=6