Leica DM6M LIBS專業版清潔度分析系統

配備LIBS系統、K3高清攝像頭和LAS X清潔度分析軟件的DM6 M顯微鏡。

• 顆粒檢測尺寸最小可至5微米

• 全自動識別金屬和非金屬顆粒并區分顆粒和纖維

• 顆粒的X、Y和Z方向測量

• 同時識別顆粒成分

• 無需傳送樣本和額外的樣本制備

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  更多前沿產品等您來。
  

  徠卡工業顯微技術解決方案

  通過以工作流為中心的創新科技，我們提供高質量和易于使用的解決方案，使用戶能夠在材料研究、產品研發和生產制造等方面獲得洞察力和投資回報。
  
   

  徠卡給您提供：

  • 數碼顯微鏡方案

  • 人體工程學體視顯微鏡

  • 應用于材料和地質科學的高級體視和高倍復合顯微鏡

  • 工業和教育應用的成像和分析解決方案

  • 公檢法應用的成像和分析解決方案

  • 醫療器械領域專業解決方案

   

  
  數碼顯微鏡 Emspira 3
  
  
  徠卡DM6 M LIBS
   

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