離子研磨儀制備掃描電鏡（SEM）樣品的詳細流程與原理
離子研磨是一種高精度的樣品表面制備技術，廣泛用于需要高分辨率顯微觀察的樣品制備，特別是那些容易受機械應力影響的材料，如半導體、陶瓷、復合材料等。以下將詳細闡述離子研磨樣品制備​的原理、流程、參數設置以及實際案例。
 

• 離子源：通過電場加速氬離子（Ar⁺），形成高能量離子束。
• 樣品臺：可進行多角度調節，控制離子束轟擊樣品的角度。
• 真空腔體：保持高真空環境，減少離子散射。
• 冷卻系統：部分系統配備冷卻功能，防止樣品在研磨過程中過熱。

• 高角度研磨（>10°）：快速去除較厚的材料，常用于初步研磨階段。
• 低角度研磨（<10°）：精細拋光，減少表面粗糙度，常用于最終研磨階段。
• 雙離子束研磨：同時從不同方向轟擊樣品，改善研磨效率和表面質量。

2.離子研磨儀制備掃描電鏡樣品的詳細步驟
2.1 機械預處理

• 目的：去除大塊材料，縮短離子研磨時間。
• 工具：金剛石鋸、砂紙、金剛石拋光膏。
• 結果：獲得初步平整的樣品表面。

注意事項：

• 避免過度機械拋光引起的表面應力和形變。
• 對脆性材料（如陶瓷）要輕柔處理，防止裂紋擴展。

2.2 初步離子研磨

• 目的：去除機械拋光殘留的形變層。
• 參數設置（不同型號參數不同，僅供參考）：
  • 加速電壓：3-5 kV
  • 離子束角度：10°-15°
  • 時間：30-60分鐘

過程：

• 將樣品安裝在樣品臺上，固定牢固。
• 設置離子束角度，進行高角度研磨。
• 研磨后檢查樣品表面，確保主要形變層已去除。

2.3 精細離子研磨

• 目的：消除研磨過程中的微觀缺陷，獲得高平整度表面。
• 參數設置（不同型號參數不同，僅供參考）：
  • 加速電壓：1-3 kV
  • 離子束角度：4°-7°
  • 時間：60-120分鐘

過程：

• 調整離子束角度，通常采用低角度轟擊。
• 逐漸降低離子束能量，避免表面損傷。
• 冷卻系統啟動，減少熱效應。

2.4 截面離子研磨（可選）

• 目的：觀察樣品的截面結構（如多層膜、器件結構）。
• 方法：將樣品切割后，通過離子束垂直轟擊暴露出截面。

參數設置（不同型號參數不同，僅供參考）​：

• 加速電壓：2-5 kV
• 角度：90°
• 時間：60分鐘以上

2.5 樣品檢查

• 工具：掃描電子顯微鏡（SEM）。
• 目的：觀察樣品表面或截面的顯微結構。
• 重點檢查：
  • 表面平整度
  • 是否有殘留機械損傷
  • 顯微結構完整性

4.常見材料的研磨策略
材料類型研磨策略應用領域金屬材料低角度、低能量研磨晶粒結構、應力分布陶瓷材料低角度、長時間研磨裂紋擴展、顯微結構半導體材料截面離子研磨薄膜器件、界面結構生物材料低能量、短時間研磨脆弱結構保護

5.典型研磨案例
案例1：金屬材料截面觀察
高分辨率顯示晶界、析出相分布。
案例2：陶瓷材料表面形貌
表面無裂紋、無機械損傷。
案例3：半導體器件內部結構
清晰顯示多層薄膜界面。

鋁墊表面異物的 EDS 分析 

6. 總結

• 離子研磨是制備高質量SEM樣品的關鍵技術。
• 不同材料需要針對性調整研磨參數。
• 結合高角度和低角度研磨可有效提高表面質量。
• 最終通過SEM檢查確保樣品滿足分析要求。